為制造材料性能符合預(yù)期的高質(zhì)量、可靠產(chǎn)品，控制和測量原材料來料中的雜質(zhì)元素和痕量元素至關(guān)重要——而只有使用正確的設(shè)備方能做到這一點。今天我們來了解3種金屬分析檢測工具，分別是：OES、XRF和LIBS，選對檢測儀器，為企業(yè)生產(chǎn)提質(zhì)提速。

日立直讀光譜儀—— OES

為滿足各企業(yè)的檢測需求，我們的OES提供有臺式的火花直讀（FMS/FME/新一級OE750），移動式、便攜式光譜分析儀（PM2/PMP/TMP）

【臺式火花直讀光譜儀】

【移動、便攜式光譜儀】

[移動式OES的優(yōu)勢]

| 高準(zhǔn)確度的元素分析，直至ppm水平

| 對所有合金元素和痕量元素都擁有很好的分析性能

| 能夠分析低含量的碳（L牌號分選）

| 能夠通過氮元素的分析確定雙相鋼的牌號

| 最高的元素測量范圍，靈活性和用途廣泛

日立手持分析儀器——XRF熒光、LIBS激光

近年來，手持XRF熒光光譜儀在廢舊金屬行業(yè)、不銹鋼等行業(yè)里面應(yīng)用廣泛，成為來料分揀的好幫手。日立分析儀器在手持式方面提供有2種金屬分析工具，分別是手持XRF熒光光譜儀和LIBS激光誘導(dǎo)分析儀。

【手持LIBS激光誘導(dǎo)分析儀】

【手持XRF熒光光譜儀】

[手持XRF熒光光譜儀的優(yōu)勢]

| 快速、準(zhǔn)確和精密的PMI應(yīng)用工具

| 一次測量可達35種化學(xué)元素

| 分析范圍從ppm水平到100%

| 典型的測量時間為5-15秒

| 堅固，專為惡劣環(huán)境設(shè)計

| 三種技術(shù)中對樣品表面條件最不敏感的

OES、XRF、LIBS三種分析設(shè)備的對比

首先關(guān)于檢測表面痕跡。

某些應(yīng)用，如航空航天和汽車，需要進行無損檢測（NDT）。對樣品的影響取決于所使用的技術(shù)：

XRF：唯一無損的方法

LIBS：表面留下一個小的激發(fā)痕跡（劃痕）

OES：樣品表面留有清楚的激發(fā)痕跡

通常，原材料的進貨檢驗可以使用任何技術(shù)完成，并且沒有無損檢測要求。

其次，針對不同分析目的，選擇合適的分析工具。

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我們竭誠為您提供專業(yè)的設(shè)備選型指導(dǎo)。

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